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泰勒霍普森粗糙度測量儀TAYLOR HOBSON產(chǎn)品

  • 發(fā)布日期:2022-10-16      瀏覽次數(shù):918
    • 泰勒霍普森粗糙度測量儀TAYLOR HOBSON產(chǎn)品

      泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116技術(shù)參數(shù)

      數(shù)據(jù)顯示 

      泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116顯示屏每頁顯示7個(gè)測試結(jié)果,屏幕上可顯示輪廓圖(剖面圖)

      泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116可以打印測試結(jié)果和圖形

      使用Talyprofile軟件可以連接電腦,分析測試結(jié)果

      數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

      儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形

      儀器支持U盤zui大4G,zui多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形,每批可存儲(chǔ)10萬個(gè)測試結(jié)果,共70批數(shù)據(jù)。

      使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無限數(shù)據(jù)。

      電源:

      充電器USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

      充電時(shí)間4小時(shí)

      電池壽命充電一次可以做2000次測試

      待機(jī)時(shí)間5000小時(shí),由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測試狀態(tài),zui長時(shí)間不超過1秒I

      自動(dòng)關(guān)機(jī)30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置

      技術(shù)指標(biāo)

      測量范圍400 um 100 um 10 um

      分辨率 50 nm 20 nm 5 nm

      底噪(Ra 150 nm 100 nm 50 nm

      重復(fù)精度 (Ra) 1%測試值+底噪

      傳感器原電感 測量力 50-300mg

      測針針尖半徑 標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

      測試方式 滑動(dòng)掃描

      自動(dòng)軟件校準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn):ISO4287


       


    蘇公網(wǎng)安備32021402002648