| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,生物產業(yè),石油,制藥/生物制藥,綜合 |
貴金屬鍍層厚度測量
FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。它是從大眾認可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量?？蓽y量的元素范圍從氯 (17)到鈾(92)
XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器
XDL系列儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控
Fischer X射線測厚儀典型的應用領域有:
測量大規(guī)模生產的電鍍部件
測量薄鍍層，例如裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層全自動測量，如測量印刷線路板
分析電鍍溶液
貴金屬鍍層厚度測量
蘇公網安備32021402002648
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